Home装置一覧ナノ計測・分析

ナノ計測・分析研究分野

No.
1-1
1-2
1-3
画像
名称
超高圧超高分解能
透過電子顕微鏡
400kV 高分解能電子顕微鏡
300kV
電界放射型透過電子顕微鏡
メーカー
日本電子(株)
日本電子(株)
日本電子(株)
型式
JEM-ARM-1250
JEM-4000EX
JEM-3000F
特徴
加速電圧 1250kV の超高圧超高分解能電子顕微鏡
点分解能は 0.102nm
ローレンツ顕微鏡像観察、加熱その場観察が可能
加速電圧 400kV
点分解能 0.18nm
EDX搭載
比較的厚い試料の高分解能観察
加速電圧 300kV
点分解能 0.1nm
電界放射銃を有する
EDS分析 および HAADF観察 が可能
No.
1-4
1-6
1-7
画像

画像準備中
名称
300kV 高分解能生電子顕微鏡
サブオングストローム
分解能分析電子顕微鏡
デュアルビーム型集束
イオンビーム加工装置
メーカー
日本電子(株)
FEI
FEI
型式
JEM-3010
Titan80-300
Quanta3D
特徴
-
加速電圧 300kV
点分解能 sub-Angstron
球面収差補正による干渉縞の少ない原子配列の観察が可能
サブオングストロームレベルでの3D特性決定機能
-
No.
1-8
1-9
-
画像
名称
イオンミリング装置
超高分解能電界放出型
走査電子顕微鏡
-
メーカー
Fischione
日立
-
型式
IonMill-1010
SU8000
-
特徴
TEM用試料の高精度イオン加工と研磨
液体窒素による試料の冷却も可能
エネルギー可変加工
オイルフリーの真空システム
最表面の組成、回折コントラストを捉えるTop検出器
極表面観察時の信号検出能力が更に強化
絶縁物試料の帯電抑制機能
-
  試料作成/画像解析用機器
画像
ディンプルグライン ハンディラップ

画像準備中
名称
ディンプルグラインModel656
ハンディラップ 日本電子(株)
フィルムスキャナー /
画像出力
精密カッター

※装置1-5は移管の為リストより削除(H21)

ページトップへ
 

東北大学ナノテク融合技術支援センター CINTS WEB MENU

ホームページ制作 フリー素材 無料WEB素材
Copyright (c) 2007 Tohoku University , Center for Integrated NanoTechnology Support All Rights Reserved.